卡尺校准作业指导书

2019-07-28 21:47:00 admin


校 准 报 告
仪器编号仪器名称型号规格出厂编号




检验时环境条件温度(℃)
湿度%
校准依据:JJG 30-2002
标准器名称特征(mm)设备编号检定/校准证书号有效期
量块1.005-100080616SZC090521250801C102010年5月31日
千分尺0-25A1891SZC090521250801C022010年5月26日





外观      合格       不合格相互作用 合格          不合格
外量爪平面度    3         um表面粗糙度          Ra      <0.2          um
刀口内量爪尺寸             mm刀口内量爪平行度             mm
零值误差(首刻线)             mm零值误差(尾刻线)             mm

量块(mm)卡尺读数(mm)示值误差(mm)












测深示值误差量块(mm)20卡尺读数(mm)
示值误差(mm)
结论      合格      不合格       参见校准结果使用测量结果的扩展不确定度U=     mm
备注:





























校准日期年    月    日复校日期年    月    日
校准单位
校准员














表单编号:TTQR-QA-020


游标卡尺如何校准

通用卡尺校准方法  

1、目的   为了保证卡尺测量值的准确性,测量结果的可靠性,特别制定此方法。   

2、适用范围   适用于公司所有用于检测用的卡尺。   

3、职责   计量管理员负责通用卡尺的校准。   

4、校准条件   温度:20±5℃,湿度:≤80%   

5、校准前准备   将被校卡尺及量块等校准设备置于计量室的平板或木桌上,量程300mm的要一个小时以上;量程500mm的要1.5小时以上。   

6、校准步骤 

6.1外观     卡尺表面镀层均匀,标尺标记清晰,表面清洁,不能有锈蚀、碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划痕,无可见的断线和粗细不均等,以及影响外观质量的其他缺陷。  

6.2各部分相互作用     尺框沿尺身移动应手感平稳,不应有阻滞或松动现象;数显的卡尺要显示清晰、完整、无黑斑和闪跳现象;各按钮应反应灵敏;紧固螺钉能起到紧固作用。

 6.3各部分相对位置  

6.3.1游标尺刻线于主标尺刻线应平行,无目力可视的倾斜。 

6.3.2游标尺标记表面棱边至主标尺标记表面的距离不大于0.30mm. 

6.3.3卡尺两外量爪合并时,应无目力可视的间隙。

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 6.4测量面的表面粗糙度 

6.7刀口内量爪的平行度(数显是否带刀口内量爪)    

将1块尺寸为10mm的5等量块的长边夹持于两外测量爪测量面直径,紧固螺钉后,该量块能在量爪测量面间滑动而不脱落。用外径千分尺沿刀口内量爪在平行于尺身方向测量,以刀口内量爪全长范围内最大与最小尺寸之差确定。差值不超过0.01mm为合格。

 6.8零值误差     移动尺框,使游标卡尺量爪两外测量面接触。对于游标深度尺,将尺框测量面与尺身测量面同时与平板接触。

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分别在尺框紧固和松开的情况下,用目测其重合度应符合下表规定。  分度值  “零”标记重合度  “尾”标记重合度          0.02 ±0.005  ±0.01    

6.9示值变动性     

在相同条件下,移动尺框,使数显卡尺量爪两外测量面接触,对于数显深度卡尺,将基准面与平板接触,移动卡身,使测量面与平板接触。重复测量5次并读数。示值变动性以最大与最小读数的差值不超过0.01mm。

卡尺校准项目,

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对于深度卡尺,测量时按受检尺寸依次将两组同一尺寸的量块平行放置在1级平板上,使基准面的长边和量块工作面的长边方向垂直接触,再移动尺身,使其测量面和平板接触,测量时,量块分别置于基准面的里端和外端两位置。  示值误差的测量应在螺钉紧固和松开两种状态下进行。无论尺框紧固与否,卡尺的测量面和基准面与量块表面接触能正常滑动。接触时,有微动装置的使用微动装置。  刀口外量爪和刀口内量爪的示值误差的校准方法同上,测量时,每一测量点应在刀口外量爪和刀口内量爪的中间位置进行测量。  对于带有深度测量杆的卡尺,测量深度测量杆示值误差时,用两块尺寸为20mm的量块置于1级平板上,使基准面与量块接触,测量杆测量面与平板接触,然后在尺身上读数。 

7、校准结论  校准步骤中所有需要检校准项目均符合要求判合格,否则为不合格。对于不合格的卡尺可以经过维修后重新进行校准。将测量结果填写在校准历史记录卡上。

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校准周期

8、校准周期  卡尺的校准周期为12个月。如在校准有效期内卡尺不合格数量增加,分析原因,为满足测值准确应考虑缩短校准周期。